電池高溫防爆老化試驗(yàn)箱

電池高溫防爆老化試驗(yàn)箱適用于儀器儀表、電工、電子及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類(lèi)電工、電子、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；特別適用于LED、光電、光纖、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、循環(huán)試驗(yàn)。

電池高溫防爆老化試驗(yàn)箱防爆配置：

1，內(nèi)箱和外箱的鋼板的加厚。
2，安裝防爆合頁(yè)，冷拉手，安裝防爆鏈條。
3，雙層防爆視窗，且安裝防爆網(wǎng)，視窗燈為
防爆燈。
4，安裝泄壓口（電池爆炸達(dá)到一定壓力，自
動(dòng)彈開(kāi)）
5.一些電器配件，風(fēng)機(jī)，等也選用防爆類(lèi)的

執(zhí)行與滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法；
GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；
GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；。
MIL-STD810D方法502.2 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)；
IEC 68-2-1-1990 中文名稱(chēng): 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)
EC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化

常規(guī)型號(hào)及規(guī)格參數(shù)：

型號(hào):LQ-GD-80   內(nèi)箱尺寸：400×500×400    外箱尺寸：950×1360×950

型號(hào):LQ-GD-150  內(nèi)箱尺寸：500×600×500    外箱尺寸：1050×1460×1050

型號(hào):LQ-GD-225  內(nèi)箱尺寸：500×750×600    外箱尺寸：1050×1610×1150

型號(hào):LQ-GD-408  內(nèi)箱尺寸：600×850×800    外箱尺寸：1150×1710×1250

型號(hào):LQ-GD-800  內(nèi)箱尺寸：1000×1000×800  外箱尺寸：1550×1850×1300

型號(hào):LQ-GD-1000 內(nèi)箱尺寸：1000×1000×1000 外箱尺寸：1550×1850×1470

容積分別是：80升     150升     225升      408升      800升     1000升

溫度范圍：A:0℃~150℃；B:-20℃~150℃；C:-40℃~150℃；D：-60℃~150℃；F：-70℃~150℃（任選、任調(diào)）

溫度穩(wěn)定度：±0.5℃

溫度分布均度：±2℃

升溫時(shí)間：3℃/min（空載非線(xiàn)性）

降溫時(shí)間：1℃/min（空載非線(xiàn)性）